To tylko jedna z 3 stron tej notatki. Zaloguj się aby zobaczyć ten dokument.
Zobacz
całą notatkę
Stykowe metody pomiaru chropowatości powierzchni. • Profilometry Stykowe metody pomiaru parametrów chropowatości powierzchni polegają na odtwarzaniu profilu powierzchni przez końcówkę pomiarową w postaci igły diamentowej, która przemieszcza się po powierzchni wzdłuż ustalonego odcinka pomiarowego. Pionowe ruchy końcówki są przetwarzane w przetworniku na sygnał elektryczny, który jest wzmacniany i przetwarzany na wartość mierzonego parametru chropowatości. Urządzenia działające w oparciu o wymienioną zasadę nazywamy profilometrami . 1- głowica z końcówką pomiarową; 2 - układ napędowo przesuwny; 3 - wzmacniacz; 4 - filtry; 5 – miernik; 6 – rejestrator; Schemat profilometru Profilometry posiadają układy filtrów mechanicznych lub elektrycznych, które eliminują inne niż chropowatość składowe błędów geometrii powierzchni. Filtr mechaniczny zbudowany jest Głowica z końcówką pomiarową i przetwornikiem indukcyjnym w postaci ślizgacza o odpowiednio dobranym promieniu krzywizny, który przemieszczając się po wierzchołkach nierówności dopuszcza do ruchów końcówki pomiarowej względem tych wierzchołków, likwidując wpływ błędów kształtu i falistości -rys.wyżej. Linia stanowiąca miejsce geometryczne środków krzywizny ślizgacza, przy jego ruchu po badanej powierzchni, staje się w układzie E linią odniesienia rejestrowanych profili. Układy elektryczne wzmacniaczy profilometrów zawierają górnoprzepustowe filtry eliminujące napięcia składowe pochodzące od falistości, o długości fali większej od określonej wartości granicznej. Na rysunku nizej przedstawiono profilogramy jednej powierzchni uzyskane na tym samym odcinku pomiarowym przy różnych granicznych długościach fali odfiltrowanej CUT OFF. Graniczna długość fali jest równa liczbowo długości odcinka elementarnego l . Profilogram tego samego odcinka pomiarowego przy różnych długościach fali odfiltrowanej. W głowicach pomiarowych stosuje się przetworniki piezoelektryczne, fotoelektryczne, indukcyjne oraz interferometryczne posiadające dużą czułość. Dolna granica zakresu pomiarowego jest ograniczona wymiarem promienia zaokrąglenia wierzchołka ostrza odwzorowującego końcówki
(…)
…
powodując powstawanie zmiennych ładunków elektrycznych, niosących informację o zmianach
wysokości chropowatości powierzchni. Po odpowiednim wzmocnieniu zmiennego sygnału
elektrycznego, profilometr daje możliwość jego całkowania na określonej długości
przemieszczenia głowicy pomiarowej związanej z zadanym odcinkiem elementarnym l (cut off). W
skład profilometru wchodzą czujniki z przetwornikiem, przystawka…
... zobacz całą notatkę
Komentarze użytkowników (0)