Stykowe metody pomiaru chropowatości powierzchni

Nasza ocena:

5
Pobrań: 203
Wyświetleń: 1771
Komentarze: 0
Notatek.pl

Pobierz ten dokument za darmo

Podgląd dokumentu
Stykowe metody pomiaru chropowatości powierzchni - strona 1 Stykowe metody pomiaru chropowatości powierzchni - strona 2 Stykowe metody pomiaru chropowatości powierzchni - strona 3

Fragment notatki:

    Stykowe metody pomiaru chropowatości powierzchni. • Profilometry            Stykowe metody pomiaru parametrów chropowatości powierzchni polegają na odtwarzaniu  profilu powierzchni przez końcówkę pomiarową w postaci igły diamentowej, która przemieszcza  się   po   powierzchni   wzdłuż   ustalonego   odcinka   pomiarowego.   Pionowe   ruchy   końcówki   są  przetwarzane  w  przetworniku  na  sygnał  elektryczny,  który  jest  wzmacniany  i  przetwarzany na  wartość   mierzonego   parametru   chropowatości.   Urządzenia   działające   w   oparciu   o   wymienioną  zasadę nazywamy profilometrami . 1-  głowica z końcówką       pomiarową; 2   -   układ   napędowo  przesuwny; 3 -  wzmacniacz; 4 -  filtry; 5 – miernik; 6 – rejestrator;      Schemat profilometru  Profilometry posiadają układy filtrów mechanicznych lub elektrycznych, które eliminują inne niż  chropowatość składowe błędów geometrii powierzchni. Filtr mechaniczny zbudowany jest   Głowica z końcówką pomiarową  i  przetwornikiem indukcyjnym w  postaci ślizgacza o odpowiednio dobranym promieniu krzywizny, który przemieszczając się po  wierzchołkach   nierówności   dopuszcza   do   ruchów   końcówki   pomiarowej   względem   tych  wierzchołków, likwidując  wpływ błędów kształtu i  falistości -rys.wyżej. Linia stanowiąca miejsce  geometryczne środków krzywizny ślizgacza, przy jego ruchu po badanej powierzchni, staje się w  układzie   E   linią   odniesienia   rejestrowanych   profili.   Układy   elektryczne   wzmacniaczy  profilometrów zawierają górnoprzepustowe filtry eliminujące   napięcia składowe pochodzące od  falistości,   o   długości   fali   większej   od   określonej   wartości   granicznej.   Na   rysunku   nizej  przedstawiono profilogramy jednej powierzchni uzyskane na tym samym odcinku pomiarowym  przy różnych granicznych długościach fali odfiltrowanej     CUT OFF. Graniczna długość fali jest  równa liczbowo długości odcinka elementarnego  l .                                 Profilogram  tego samego odcinka   pomiarowego przy różnych  długościach                                   fali odfiltrowanej. W głowicach pomiarowych stosuje się przetworniki  piezoelektryczne, fotoelektryczne,  indukcyjne  oraz   interferometryczne   posiadające   dużą   czułość.   Dolna   granica   zakresu   pomiarowego   jest  ograniczona wymiarem promienia  zaokrąglenia  wierzchołka ostrza  odwzorowującego końcówki 

(…)


powodując powstawanie zmiennych ładunków elektrycznych, niosących informację o zmianach
wysokości chropowatości powierzchni. Po odpowiednim wzmocnieniu zmiennego sygnału
elektrycznego, profilometr daje możliwość jego całkowania na określonej długości
przemieszczenia głowicy pomiarowej związanej z zadanym odcinkiem elementarnym l (cut off). W
skład profilometru wchodzą czujniki z przetwornikiem, przystawka
... zobacz całą notatkę

Komentarze użytkowników (0)

Zaloguj się, aby dodać komentarz