To tylko jedna z 6 stron tej notatki. Zaloguj się aby zobaczyć ten dokument.
Zobacz
całą notatkę
Raport z Metody XRD Prowadzący: Dr Bartosz Handke Wykonali: Konrad Waliczek Krzysztof Warzecha
1. Wstęp teoretyczny Dyfrakcja rentgenowska korzysta przede wszystkim z teorii Braggów Wulfa. Zakłada ona że strukturę kryształu można przedstawić geometrycznie jako twór zbudowany z wielu rodzin płaszczyzn sieciowych (hkl), o różnych odległościach międzypłaszczyznowych dhkl
Różnicę dróg optycznych można wyrazić wzorem:
Po przekształceniu tych zależności otrzymujemy równanie:
Gdzie:
-odległość miedzypłaszczyznowa
- kąt odbłysku
n- liczba całkowita nazywana rządem refleksu
-długość fali
W ćwiczeniu które wykonaliśmy posłużyliśmy się metoda proszkową Debye'a-Scherrera-Hulla (DSH). W metodzie tej materiałem badanym może być proszek jak i spiek polikrystaliczny. Metody rentgenowskie nie są używane do ciał amorficznych. Uziarnienie badanej substancji powinno być od 0,1 do 10 . Metoda DSH została użyta do dyfraktometri rentgenowskiej (XRD) gdzie dzięki zastosowaniu precyzyjnych detektorów i źródła promieniowania pozwoliło wykorzystanie metody do analizy fazowej ale również do znacznie poszerzenia badań strukturalnych materiałów
Rys 1. Schemat urządzenia pomiarowego
Na rysunku zaznaczono
- źródło promieniowania X (1)
- goniometr (2) , umożliwiający skoordynowane i precyzyjne poruszanie próbką i detektorem (czasem również źródłem)
- zespoły szczelin kolimujących i ograniczających wiązkę pierwotna oraz ugiętą (3), - licznik promieniowania rentgenowskiego (4)
- niezależne układy zasilania (5) goniometru, źródła i licznika
- komputer, będący zarówno urządzeniem rejestrującym jak i sterującym całym układem pomiarowym
Rys 2. Schemat badania próbki
Na Rys. 2 przedstawiono jak się bada próbkę metodą XRD. Źródłem promieniowania jest najczęściej lampa rentgenowska. Promieniowanie przechodzi przez szczeliny oraz monochromatory dzięki którym uzyskuje się promieniowanie monochromatyczne, następnie promieniowanie pada pod kątem na badaną próbkę i odbija się pod kątem 2 do detektora, próbka w czasie badania w celu zwiększenia dokładności pomiaru jest obracana. Źródło promieniowania oraz detektor muszą mieć ten sam stosunek
... zobacz całą notatkę
Komentarze użytkowników (0)