Dyfraktometria - omówienie

Nasza ocena:

3
Pobrań: 98
Wyświetleń: 1239
Komentarze: 0
Notatek.pl

Pobierz ten dokument za darmo

Podgląd dokumentu
Dyfraktometria - omówienie - strona 1 Dyfraktometria - omówienie - strona 2 Dyfraktometria - omówienie - strona 3

Fragment notatki:

KRAJOWA KONFERENCJA BADAŃ RADIOGRAFICZNYCH  -  „POPÓW 2005” 26 - 28 września 2005 r Sławomir Mackiewicz IPPT PAN DYFRAKTOMETRIA RENTGENOWSKA W BADANIACH NIENISZCZĄCYCH - NOWE NORMY EUROPEJSKIE  1. Wstęp Dyfraktometria rentgenowska jest techniką badawczą znaną i szeroko stosowaną w dziedzinie fizyki ciała stałego, krystalografii oraz badań materiałowych. Przez wiele lat była to   jednak   technika   stosowana   głównie   do   badań   naukowych   związanych   z   określaniem struktury   sieci   krystalograficznych   różnych   substancji,   wyznaczaniem   ich   komórek elementarnych oraz stałych sieciowych. Zakres zastosowań technik dyfraktometrycznych objął z czasem również obszary bliższe badaniom nieniszczącym. Do zastosowań takich zaliczyć można np. określanie składu fazowego materiałów, pomiary naprężeń czy też wyznaczanie tekstury materiałów polikrystalicznych. Istotnym czynnikiem wpływającym na zwiększenie wykorzystania   technik   dyfraktometrycznych   w   laboratoriach   materiałowych   był   postęp   w dziedzinie   budowy  dyfraktometrów   rentgenowskich   (budowa   urządzeń   przenośnych)   oraz stworzenie   specjalistycznych   baz   danych   oraz   programów   komputerowych   ułatwiających stosunkowo skomplikowaną analizę danych dyfraktometrycznych.  Wzrost   wykorzystania   metod   dyfraktometrycznych  w   laboratoriach   przemysłowych spowodował konieczność ustalenia standardów wykonywania tego rodzaju badań w sposób podobny   jak   ma   to   miejsce   w   odniesieniu   do   innych   metod   badań   nieniszczących.   W odpowiedzi  na  to   zapotrzebowanie powstała seria norm europejskich  EN 13925 [1-3],  w której sformułowano podstawowe wymagania odnośnie zasad wykonywania rentgenowskich badań dyfraktometrycznych materiałów polikrystalicznych i amorficznych a także wymagania dotyczące   stosowanej   w   tych   badaniach   aparatury.   W   opracowaniu   jest   również wspomagająca   norma   terminologiczna   [4]   definiująca   podstawowe   terminy   i   pojęcia stosowane w badaniach dyfraktometrycznych.  Ze   względu   na   wykorzystanie   promieniowania   rentgenowskiego   badania dyfraktometryczne   można   zaliczyć  do   grupy  metod   radiograficznych.  Jednak   podstawowa idea   fizyczna   leżąca   u   podstaw   tej   metody  jest   zasadniczo   odmienna   od   idei   klasycznej radiografii stosowanej dotychczas w badaniach nieniszczących. Odmienny jest również rodzaj informacji o materiale jaką można uzyskać w wyniku zastosowania tej metody.  W tym sensie

(…)

… uporządkowanie atomów może być przy tym bardzo różna; mogą to być zarówno
pojedyncze monokryształy o rozmiarach rzędu centymetrów jak też ziarna materiałów
polikrystalicznych o rozmiarach rzędu mikrometrów. Typowe materiały techniczne (metale,
ceramika) są polikryształami składającymi się wielkiej liczby krystalitów ułożonych w sposób
przypadkowy w objętości materiału. Techniki stosowane w dyfraktometrii rentgenowskiej są
w pewnym stopniu zależne od tego czy badany obiekt ma formę pojedynczego monokryształu
czy też próbki polikrystalicznej jednak podstawowa idea dyfrakcji jest taka sama.
Na rys. 1 przedstawiono schemat ułożenia atomów w prostej sieci krystalograficznej.
Rys.1. Przykładowy schemat ułożenia atomów w sieci krystalicznej z oznaczeniem różnych
grup (rodzin) wzajemnie równoległych płaszczyzn…
… lub odbiciem Bragga.
Warunki jakie muszą być spełnione aby efekt ten wystąpił zostały po raz pierwszy
podane przez Bragga w 1913r i noszą nazwę prawa Bragga:
2d sin( )  n 
(1)
gdzie:
d – odległość między sąsiednimi płaszczyznami atomowymi
θ- kąt dyfrakcji (patrz rys.2)
 - długość fali promieniowania rentgenowskiego
n – liczba naturalna
Równanie (1) wyraża w prosty sposób warunek odbicia interferencyjnego…
... zobacz całą notatkę

Komentarze użytkowników (0)

Zaloguj się, aby dodać komentarz