Pomiar czasu życia nośników ładunku w półprzewodnikach- ćwiczenie 15

Nasza ocena:

5
Pobrań: 315
Wyświetleń: 1799
Komentarze: 0
Notatek.pl

Pobierz ten dokument za darmo

Podgląd dokumentu
Pomiar czasu życia nośników ładunku w półprzewodnikach- ćwiczenie 15 - strona 1

Fragment notatki:

Wrocław, 9.04.2013
Laboratorium „Fizyki Ciała Stałego”
Politechnika Wrocławska
ćw 15 - pomiar czasu życia nośników ładunku w półprzewodnikach
Joanna Kwiotek Paulina Boruch
Dawid Chmielewski
Wstęp teoretyczny
Czas życia jest to parametr oparty na generacji i rekombinacji nośników. Znając czas życia nośników oszacować można stałą czasową przyrządów półprzewodnikowych.
Poznano różne metody oznaczania czasu życia nośników. Jednym z nich jest metoda zaniku fotoprzewodnictwa, polegająca na oświetlaniu próbki krótkotrwałymi impulsami świetlnymi. Na skutek rekombinacji nośników obserwuje się spadek przewodnictwa elektrycznego w czasie. Na podstawie tej zależności wyznaczyć można czas połówkowego zaniku. Kolejną metodą oznaczania czasu życia nośników jest badanie charakterystyki złącza p-n. Ideą procesu jest gwałtowna zmiana polaryzacji złącza z przepustowej na zaporową. Na oscyloskopie rejestrowana jest zmiana natężenia prądu w czasie, z której wyznaczyć można czas życia nośników. Metoda zaniku fotoprzewodnictwa - obliczenia
Czas życia nośników obliczono ze wzoru: Czas połówkowego zaniku T odczytano z krzywych zarejestrowanych na oscyloskopie.
dla próbki germanowej zasilanej napięciem 20V:
modulator amplitudy znacznie oddalony od próbki, częstotliwość 25,23 [1/s]
T = 2 [ms] stąd: 2,88 ms
modulator amplitudy ustawiony blisko próbki, częstotliwość 25,23 [1/s]
T = 200 [μs] stąd: dla próbki CdS zasilanej napięciem 10 V:
modulator amplitudy znacznie oddalony od próbki, częstotliwość 25,67 T = 2 [ms] stąd: modulator amplitudy ustawiony blisko próbki, częstotliwość 5,07
T = 2 [ms] stąd: Metoda badania charakterystyki złącza p-n
Czas życia nośników obliczono ze wzoru: Czas T będący przedziałem między momentem zmiany polaryzacji, a początkiem zaniku prądu odczytano z krzywych zarejestrowanych na oscyloskopie.

(…)

… od modulatora amplitudy. w naszym przypadku, gdy źródło światła ustawione jest blisko czas życia nośników jest o rząd wielkości mniejszy niż w przypadku ustawienia próbki daleko. W przypadku próbki CdS otrzymaliśmy identyczne wyniki, jednak modulator amplitudy ustawiony blisko źródła światła posiadał niższą częstotliwość. Bazując na wynikach dla próbki CdS oraz konkluzji odnośnie wpływu odległości wywnioskować…
... zobacz całą notatkę

Komentarze użytkowników (0)

Zaloguj się, aby dodać komentarz