podstawy technologii wytwarzania - pytania testowe

Nasza ocena:

3
Pobrań: 553
Wyświetleń: 1617
Komentarze: 0
Notatek.pl

Pobierz ten dokument za darmo

Podgląd dokumentu
podstawy technologii wytwarzania - pytania testowe - strona 1 podstawy technologii wytwarzania - pytania testowe - strona 2 podstawy technologii wytwarzania - pytania testowe - strona 3

Fragment notatki:

Technologie mikro- nano- część Prof. Golonki

1. Układy wysokotemperaturowe mogą być nanoszone na następujące podłoże ceramiczne:
1. Al2O3 *
2. BeO *
3. AlN *

2. Typowe grubości ścieżek w układach grubowarstwowych:
1. 0,05 um
2. 5 um *
3. 500 um

3. Typowa szerokość ścieżki grubowarstwowej:
1. 0,3 um
2. 300 um *
3. 30 mm
4. 0,2 mm *

4. Składnik podstawowy past decyduje o:
1. właściwościach elektrycznych *
2. przyczepności
3. lepkości pasty

5. Rozrzuty wartości rezystancji rezystorów grubowarstwowych po wypaleniu (bez korekcji) wynoszą: a) +/- 1%
b) +/- 20% *
c) +/- 100%
d) +/- 0,2%
e) +/- 2%

6. Metoda Fodel polega na:
1. obróbce fotolitograficznej wysuszonej warstwy *
2. obróbce fotolitograficznej wypalonej warstwy
3. nacinaniu laserem

7. Procesy zachodzące w czasie wypalania warstwy rezystywnej:
1. usuwanie składnika organicznego *
2. zagęszczanie szkła *
3. powstawanie porów *
4. tworzenie stopu PdAg

8. Pomiędzy ziarnami przewodzącymi w rezystorach grubowarstwowych występuje przewodnictwo:
1. tunelowanie
(...)

50. Zalety past polimerowych:
Tanie, dowolne podłoża, dobre właściwości elektryczne

51. Rezystancja podczas korekcji:
1. rośnie *
2. maleje
3. nie zmienia się

52. Grubość ceramiki podczas wypalania:
1. rośnie
2. maleje *
3. nie zmienia się

53. w LTCC możemy robić rezystory:
1. na górze *
2. w środku (zagrzebane) *
3. na spodzie

54. Wady warstw polimerowych:
Stabilność, dopuszczalne moce, temperatura pracy

55. Parametry laminacji:
p = 200 atm T = 70 ̊C t = 10 min....

... zobacz całą notatkę



Komentarze użytkowników (0)

Zaloguj się, aby dodać komentarz